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8V182512IDGGREP

现货

翔鸥贸易为您提供Texas Instruments设计生产的8V182512IDGGREP 型号，现有大量现货库存。8V182512IDGGREP的封装/规格参数为64-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽）；同时翔鸥贸易为您提供Texas Instruments品牌8V182512IDGGREP型号数据手册/使用说明书等中文资料，资料中有8V182512IDGGREP详细使用方法及教程。

制造商：Texas Instruments
描述：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
封装/外壳：64-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽）
库存：6717
规格书：
8V182512IDGGREP 产品参数仅供参考，以厂家数据手册为准！
制造商零件编号 8V182512IDGGREP
描述 IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
规格书
库存 6717
系列 -
逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器
供电电压 2.7V ~ 3.6V
位数 18
工作温度 -40°C ~ 85°C
安装类型 表面贴装型
封装/外壳 64-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽）
供应商器件封装 64-TSSOP
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